Bilim dünyasında heyecan yaratan bir gelişme, Almanya, Japonya ve İspanya’daki bilim insanlarının ortak çalışmasıyla geldi. Max-Planck Topluluğu Fritz-Haber Enstitüsü, Japonya’daki Moleküler Bilimler Enstitüsü/SOKENDAI ve CIC nanoGUNE araştırmacılarından oluşan uluslararası ekip, yüzeylerin ışıkla etkileşimini 1 nanometrelik olağanüstü çözünürlükte inceleyebilen yeni bir mikroskop geliştirdi.
Bu yeni nesil mikroskopi yöntemi, saçılma tipi taramalı yakın alan optik mikroskopisi (s-SNOM) teknolojisinin sınırlarını zorluyor. Ultra düşük uç salınım genliği s-SNOM (ULA-SNOM) adı verilen yöntem sayesinde, atom düzeyindeki yapılar ilk kez bu kadar net bir şekilde görüntülenebiliyor.
ATOMİK DETAYLARA IŞIK
Yüzeylerin ışığa verdiği tepkilerin bu kadar küçük ölçekte gözlemlenmesi, özellikle malzeme bilimi ve nanoteknolojide yeni kapılar aralayabilir. Araştırmacılar, bu gelişmenin tek tek molekülleri, yüzey kusurlarını ve atomik düzensizlikleri anlamada büyük katkı sağlayacağını vurguluyor.
Yapılan açıklamaya göre, bu düzeyde görüntüleme, elektronik cihazlarda kullanılacak ultra hassas malzemelerin tasarımında da devrim yaratabilir.
TEKNOLOJİYE YENİ UFUK
Yeni geliştirilen mikroskop, klasik s-SNOM sistemlerinde elde edilen 10-100 nanometrelik çözünürlüğü geride bırakarak, 1 nanometre ölçeğinde görüntüleme sağlıyor. Görünür lazer ışığı altında kullanılan gümüş bir prob ucu ile oluşturulan plazmonik boşluk, bu eşsiz başarının anahtarı oldu.
Geliştirilen bu teknoloji, temassız atomik kuvvet mikroskobu (nc-AFM) ile entegre edilerek benzersiz bir optik kontrast ve hassasiyet sunuyor. Bu sayede yüzeylerin ışıkla olan etkileşimleri en küçük detayına kadar analiz edilebiliyor.
MALZEME BİLİMİNE YENİ ARAÇ
Bu mikroskopi tekniği sayesinde, elmaslardaki kusurlardan elektronik bileşenlerdeki tekil moleküllere kadar birçok ayrıntı gözlemlenebilecek. Bu da daha dayanıklı, verimli ve işlevsel teknolojik ürünlerin geliştirilmesini mümkün kılacak.
Sonuç olarak, bilim insanlarının geliştirdiği bu yüksek çözünürlüklü mikroskop, atomik düzeyde malzeme karakterizasyonunun önünü açarak optik mikroskopide yeni bir çağ başlatabilir.
